用Bart's Stuff Test(BST)测试U盘寿命/读写次数教程

大概教程:

1.下载BST，我之前测试QLC,SLC的帖子的那个软件。
2.用MDT塞满U盘，然后用记事本(推荐npp+)或者winhex打开任意一段文件，删除1M内容左右。
3.打开BST-选Options-上面两个百分比都0%
4.改block size为u盘的簇大小
5.在左边operation选前三，即取消half检测。
6.选择u盘作为检测目录。
7.一直到测试到出错误对话框，然后不要动，直接看loop，这时候打开什么软件都会令界面变白屏。。。
8.loop就是圈数

稍微详细点的教程，测试的TLC的U盘闪存：

工具用的是Bart's Stuff Test，参数只采用了Sequencial Test，没有选择Ramdom Test。
（若是两个同时√的话，一个loop测试的是两次写入，持续和随机。得到的结果X2就可以了。）
用数据将其填满，留出1M左右空间测试。
主控是SM3255AB，闪存K9ABG08U0A。
U盘没怎么用过，写入4M，无法忍受。

从图中结果可以看出，第一次持续跑了1400圈左右，之前还有200次是手动停止的，一共就算1600吧。
再一次测试，是U盘没有拔出，理论上还是之前的block，持续了2600次循环。
总体寿命不可能按照两次相加共擦写4000多次的，芯片放置几小时没用，总是会有所恢复。
两次都是持续读写，貌似都具有参考价值。但这个前提只是主控没有利用备用的block来填充继续使用。




结果超出了大家的预期值500-1000P/E，至于是不是主控的原因，还是测试方法有误，不得而知。
若是排除软件、方法不得当（都这么做的），或者操作过程中主控做了填补或者均衡磨损回补，
从这个结果中可以看出，TLC一些情况下除了速度之外，正常使用时耐久度也不是那么惨不忍睹的。